EXFO CT440/CT440-PDL

紧凑的测试仪，用于快速、精准地鉴定无源光器件（复用器/解复用器、滤波器、分光器等）和模块 （ROADM、WSS）。覆盖从1240到1680 nm的频谱范围，可在整个电信波段上进行测量。借助PDL选 件，可同时测量插损和偏振相关损耗。

主要功能：快速测量变换函数（插损）；波长范围：1240 - 1680 nm（SMF型号）；PM和PDL选件；波长分辨率：1至250 pm；波长精准度：±5 pm；动态范围：单次扫描时65 dB；最多可结合4个可调谐激光器（SMF型号）；配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展；19英寸机架支持1U版本。